x-ray檢測設(shè)備基本原理：
　　X-ray檢測設(shè)備根據(jù)x光穿透待檢樣品，然后在圖像探測器上投射x光圖像。圖像的形成質(zhì)量主要由分辨率和對比度決定。成像系統(tǒng)的分辨率取決于x射線。
　　x-ray檢測設(shè)備是由加速電子碰撞金屬片釋放出來的x-ray穿透樣品，留下圖像，技術(shù)人員根據(jù)圖像的明暗度觀察樣品的相關(guān)細(xì)節(jié)。能夠檢驗樣品。PCB路線斷掉，IC缺點、錫球裂開等一系列異常。

　　基本概述：
　　x-ray檢測設(shè)備根據(jù)x光穿透待檢測樣品，然后在圖像探測器上投射x光圖像。圖像的形成質(zhì)量主要由分辨率和對比度決定。一般來說，x-ray檢查儀的光管特性起到了很大的作用，目前卓茂光電的光管特性x-ray所有設(shè)備均選用日本進(jìn)口濱松HAMAMATSU作為關(guān)鍵部件。
　　x射線管:
　　x根據(jù)電場，射線管的關(guān)鍵是提供電子從熱陰極向陽極加速的效果。當(dāng)電子在幾十個時候。KV在高壓下迅速加速到高速狀態(tài)，當(dāng)撞擊陽極體時，動能轉(zhuǎn)換釋放X射線。撞擊區(qū)域的大小是X射線源的大小。根據(jù)孔成像原理，我們可以大致了解X射線源的大小與清晰度成反比，即x-ray射線源越低，顯像越清晰。
　　x射線探測器：
　　x射線探測器填補了過去化學(xué)膠片顯像的不足，可以降低成本，提高效率。
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